NTTがDRAMセルの熱とエントロピーを電子単位で同時測定する手法を開発、超低消費電力メモリの実現に期待

1: すらいむ ★ 2026/04/24(金) 22:27:45.38 ID:aoIf8dTj
NTTがDRAMセルの熱とエントロピーを電子単位で同時測定する手法を開発、超低消費電力メモリの実現に期待 　NTTは4月23日、室温で動作するDRAMセルにおいて、熱とエントロピーを電子1個単位で同時に測定することに...